FFU 如何对抗晶圆厂中的空气分子污染 (AMC)?
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FFU 如何对抗晶圆厂中的空气分子污染 (AMC)?

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FFU 如何对抗晶圆厂中的空气分子污染 (AMC)?

在 10nm 以下的半导体节点中,颗粒并不是优选的敌人。 空气分子污染 (AMC) ——由酸、碱和有机物组成的不可见气体——已成为产量损失的主要原因。

对于工艺工程师来说,挑战是双重的:防止外部污染物进入无尘室并确保过滤设备本身不会成为污染源。

得胜鑫 ,我们采用严格的 双级过滤策略来解决AMC问题,将更好的化学吸附与零释气材料相结合。本文详细介绍了我们如何中和 MA、MB、MC 和 MD 污染物以保护您的关键工艺区域。


隐形威胁:了解 AMC

AMC 根据 SEMI F21-1102 标准分为四个主要系列。我们的过滤系统专门针对以下各项而设计:

  • MA(分子酸): 例如氢氟酸、SOx、NOx。可能导致金属互连腐蚀。

  • MB(分子碱): 例如氨、胺。的优选方案大敌人 光刻,导致光刻胶中出现 T-可靠ping 缺陷。

  • MC(分子可冷凝物): 例如有机物、DOP。会沉积在透镜和晶圆表面,导致雾霾。

  • MD(分子掺杂剂): 例如硼、磷。可能会无意中改变硅的电性能。


解决方案优选方案阶段:集成化学过滤

标准 HEPA 过滤器 捕获颗粒,但气体直接穿过它们。为了 s可靠 AMC,我们集成了 配备专用介质的 化学 风机 过滤器 单元(化学 FFU) :

  1. 离子交换 材料: 专门配制用于通过化学吸附中和酸 (MA) 和碱 (MB)。这对于至关重要。 光刻蚀刻

  2. 活性炭(浸渍): 使用特定浸渍剂进行优化,针对挥发性有机物 (VOC) 和冷凝物 (MC)。

结果: 我们的化学品过滤器对目标气体的去除效率达到了 99.9% ,确保了晶圆的原始分子环境。


解决方案第二阶段:转向 PTFE(低释气)

这是现代晶圆厂更关键的升级。传统的 FFU 使用 玻璃纤维(硼硅酸盐) 过滤器。玻璃纤维虽然对颗粒有效,但天然含有 。在风量下,微量的硼可以从过滤器介质中“脱气”(释放),本身成为污染物(MD)。

得胜鑫 解决方案:PTFE 材料
我们将 e-PTFE(膨体聚四氟乙烯) 膜 过滤器 用于所有关键的半导体应用。

  • 零硼风险: PTFE 是一种化学惰性且不含硼的合成材料。

  • 卓越的耐受性: PTFE 不受酸/碱腐蚀的影响,使其能够在恶劣的化学品工况(如湿工作台区域)中耐用。

  • 更低的压降: PTFE 提供更好的风量效率,降低工厂的能耗。


技术比较:玻璃纤维与 PTFE

特征 传统玻璃纤维HEPA/ULPA DSX PTFE(特氟龙) ULPA
初 材料 硼硅酸盐超细纤维 膨体聚四氟乙烯膜
硼放气 高风险(MD 来源) 零(无硼)
耐酸/耐碱 差(随着时间的推移而退化) 优秀(化学惰性)
机械强度 易碎(损坏风险) 高(坚固的膜)
推荐区 一般洁净室/走廊 晶圆厂/光刻/工艺工具

结论

控制 AMC 不是可有可无的——它是良率保证的要求。通过结合 化学过滤 来去除进入的气体和 PTFE 材料 来消除 过滤器 产生的污染物,FFU风机 为您的晶圆提供全面的防护。

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